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DRX

Difratômetro de Raios-X D8 Advance, Bruker

Descrição: Este equipamento é um difratômetro de raios-X para amostras policristalinas e realiza medidas do padrão de difração de raios-X na geometria Bragg-Brentano (amostras na forma de Pó) e na geometria de Incidência Rasante (amostras na forma de filmes finos policristalinos). O goniômetro possui geometria theta/theta, intervalo angular de 3º< 2θ < 140º e menor passo possível de 0,0005o. A radiação utilizada são as linhas kα1/kα2 do cobre (λ = 1,540598/1,544426Ã…). A tensão e corrente de operação do tubo de raios-X são 40kV e 40mA, respectivamente. O sistema conta com fendas Soller primária e secundária de 2,5º, de divergência de 0,6º e filtro de níquel para eliminar outros comprimentos de onda.

Aplicações: com o padrão de difração de pó é possível realizar a identificação de fases cristalinas (análise qualitativa), determinar a concentração de fases cristalinas e amorfas (análise quantitativa), calcular o grau de cristalinidade, calcular o tamanho de cristalito e o microstrain. Boa parte das aplicações especificadas acima são feitas utilizando-se o Método Rietveld, onde também é possível obter os parâmetros de rede, as posições e o fator de ocupação dos átomos.

Acessórios

Detector LynxEye

Este é um detector linear silicon strip de 192 canais, área ativa de 14mmx16mm e ângulo de captura de aproximadamente 3º para a configuração atual do equipamento, mas pode chegar a 5º. Com este detector é possível adquirir o padrão de difração 192 vezes mais rápido que um detector pontual convencional e com mesma qualidade (Modo 1D). Também é possível utilizar esse detector no modo 0D, ou seja, como um detector pontual. Este detector também é capaz de suprir a fluorescência devido a elementos como o Fe.  

Trocador de amostras automático

Trocador de amostras automático de até 90 amostras (seis torres de 15 amostras). Atualmente contamos com uma torre de 15 amostras.

Soller equatorial (ou colimador de placas paralelas)

Este é um colimador de placas paralelas ou soller equatorial de 0,3º. Ela é utilizada nas medias de incidência rasante (GIXRD) para a identificação de fases cristalinas em filmes finos policristalinos.

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