top of page

Equipamentos Futuros

Abaixo são listados alguns equipamentos já aprovados e que serão adquiridos na medida que os recursos forem liberados. As fotos, modelos e marcas são ilustrativos, entretanto as configurações descritas correspondem as que queremos adquirir.

Difratômetro de Raios-X D8 Discover, Bruker

Este difratômetro é voltado para amostras monocristalinas e, principalmente, filmes finos monocristalinos, policristalinos e amorfos. 

Acessórios: estágio phi, chi, x, y, z (além do ω e 2θ), cabeça goniométrica, espelho de Gobel, monocromador de quatro cristais, duplo cristal analisador e colimador de placas paralelas de 0,2º

Abaixo são listadas algumas das técnicas e medidas que podem ser realizadas em determinados tipos de amostras.

Monocristais e filmes finos monocristalinos: Curvas de Rocking, Mapeamento do Espaço Recíproco e Refletividade (este não se aplica a monocristais).

Filmes finos policristalinos: Incidência Rasante, Refletividade, Textura e Tensão Residual.

Filmes finos amorfos: Refletividade.

Metais: Textura e Tensão Residual.

Câmara de Alta Temperatura HTK 1200N, AntonPaar

Esta câmara permite a realização de medidas de difração de raios-X in-situ no intervalo de temperatura de 25 ºC até 1200 ºC, com atmosferas de vácuo (10-4 mbar), ar e gases inertes. Porta amostra de Al2O3 de 16mm de diâmetro e 1mm de profundidade (0,2 mL).

Câmara de Baixa Temperatura Phenix 12K, Oxford CryoSystems

Esta câmara permite a realização de medidas de difração de raios-X in-situ no intervalo de temperatura de -261 ÂºC até temperatura ambiente e utiliza um ciclo fechado de hélio.  As medidas são realizadas em vácuo e utiliza porta amostra de Alumínio.

bottom of page